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Flash-Speicherchip Intelligente Prüfgeräte Kompaktgröße

Kunden-Berichte
Ja empfingen wir die Maschine letzte Woche. Diese Maschine war nett und dankt den Nachverkäufe serives, war sehr Berufs.

—— Peter Maas

Im Namen der Firma, um Ihre Fabriken und Unternehmen zu besuchen, ist das technische Personal sehr professionell und geduldig, ich denke, ich würde mich freuen, wieder mit Ihnen zusammenzuarbeiten.

—— Steve Hubbard

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Flash-Speicherchip Intelligente Prüfgeräte Kompaktgröße

Flash-Speicherchip Intelligente Prüfgeräte Kompaktgröße
Flash-Speicherchip Intelligente Prüfgeräte Kompaktgröße

Großes Bild :  Flash-Speicherchip Intelligente Prüfgeräte Kompaktgröße

Produktdetails:
Herkunftsort: China
Markenname: Haida
Zertifizierung: CE,ISO
Modellnummer: HD-N8-NAND
Zahlung und Versand AGB:
Min Bestellmenge: 1set
Preis: US$5,000.00-13,000.00 / Piece
Verpackung Informationen: Gutes Holzetui
Lieferzeit: 8 Tage nach Auftrag
Zahlungsbedingungen: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
Versorgungsmaterial-Fähigkeit: 150 Sätze/Monate

Flash-Speicherchip Intelligente Prüfgeräte Kompaktgröße

Beschreibung
Betriebstemperaturbereich: -30ºC~150ºC Lagertemperaturbereich: -20ºC~60ºC
Betriebsfeuchtigkeitsstrecke: 45%~75% Ausrüstungsgröße: W400×H510×D520mm
Hervorheben:

Intelligente Flash-Speicher-Chip-Testgeräte

,

Kompakt-Intelligente Testgeräte

Intelligentes Testsystem für Flash-Speicherchips

Produktbeschreibung:

  1. Das Smart Test System YC-N8-NAND ist ein umfassendes Flash-Speicher-Testsystem, das angepasst werden kann, um bis zu 8 Flash-Partikel parallel zu testen.
  2. Es unterstützt eine breite Palette von Testmustern und benutzerdefinierten Testparametern.Es bietet einen grundlegenden Testablauf mit einem Klick, einen hochflexiblen experimentellen Test und einen erweiterten Testablauf und kann einen grundlegenden Testablauf mit einem Klick, einen hochflexiblen experimentellen Test und einen erweiterten Testablauf bieten, mit denen verschiedene Funktionstests wie die verbleibende Lebensdauer realisiert werden können Vorhersage, der reale Test, Datenspeicherung und Lesestörung von Flash-Speicherpartikeln.Der Prüfbericht kann nach Abschluss der Prüfung schnell und einfach exportiert werden.Es bietet die intuitivsten grafischen Testdaten, um die genaueste Referenz für die Klassifizierung und Anwendung von Flash-Partikeln bereitzustellen.Es bietet auch die genaueste Referenz für die Flash-Partikel-Klassifizierung und -Anwendung und ermöglicht eine intelligente Einstufung auf der Grundlage von Flash-Partikel-Qualitätstestergebnissen.


Produktspezifikationen:

  1. Getestet von JEDEC Stand Nr. 218: Solid State Technology Association B-2016 Solid-State Drive (SSD) Requirements and Endurance Test Motho;
  2. Testgrundlage in Anlehnung an JEDEC Standard No. 47 NVCE: Solid State Technology Association Stress-TestDriven Qualification of Integrated Circuits;
  3. Designspezifikationen für Testplatinen, um die Anforderungen der Testtemperaturumgebung in Industriequalität zu erfüllen;


Technische Spezifikationen:

Physikalische Eigenschaften
Gerätegröße B400×H510×T520mm
Stromversorgungsmethode AC
Betriebsspannungsbereich AC(220±10%)V einphasig 2-Draht + Schutzerde
Normaler Arbeitsstromverbrauch 2KW
Betriebstemperaturbereich -30 ºC ~ 150 ºC
Lagertemperaturbereich -20 ºC ~ 60 ºC
Betriebsfeuchtigkeitsbereich 45%~75%
System Geschwindigkeit
Anzahl der Partikel, die parallel getestet werden können 1~8 Stk
Unterstützte Flash-Marken zum Testen SLC, MLC, TLC, Sandisk usw. von Micron, Intel, YMTC, Hynix, Toshiba, Sandisk usw. NAND-Flash-Chip-Partikel vom Typ QLC (Angebot wird erweitert)
Paketgrößen unterstützt BGA152, BGA132 (kundenspezifische Erweiterungen verfügbar)
Unterstützte Flash-Protokolltypen ONFI/Toggle-Interface-Partikel
Unterstützte Spannung Hardwareunterstützung V1.2, V1.8 optional
Unterstützter Spannungs-Pull-Off-Bereich Die Softwareunterstützung kann auf vcc2.3~3.6 feinabgestimmt werden
vccq1.2 1.15~1.25
vccq1.8 1.70~1.95
Unterstützt optionale Testbereiche Individuelle Einstellungen für Startblockanzahl, Blockpause, Zyklenanzahl, Testzeit etc.
Stützmuster Alle 0, alle 1, alle 5, pseudo-zufällig, Schachbrettmuster, Wortleitung zufällig usw.
Unterstützung für Testbefehlstypen Überprüfung der Flash-Speicherinformationen
Leistungstests für Flash-Speicher
Lebensdauertests und Vorhersage
Qualitätsklassenklassifizierung
Dateninterferenztest
Testen der Datenspeicherung
Read-Retry-Funktionalität
Lebensdauertests und -vorhersage
ECC-Anpassung
Parallele Testgeschwindigkeit Als Beispiel für einen langlebigen Wellington Pellet Base Test:
Ausgeglichener Modus: 128 GB * 8 Pellets ca.1 Stunde
Vollmodus: 128 GB * 8 Pellets ca.2 Stunden
Hochgeschwindigkeitsmodus: 128 GB * 8 Pellets ca.20 Minuten
Intelligentes Testmodul Grundlegende Tests
Experimentelle Tests
Fortgeschrittene Tests


Unsere Firma Einführung:
HAIDA INTERNATIONAL ist seit über 24 Jahren ein professioneller Hersteller verschiedener Arten von Prüfgeräten.HAIDA-Produkte werden häufig in Papierprodukten, Verpackungen, Tintendruck, Klebebändern, Taschen, Schuhen, Lederprodukten, Umwelt, Spielzeug, Babyprodukten, Hardware, elektronischen Produkten, Kunststoffprodukten, Gummiprodukten und anderen Industrien verwendet und sind für alle wissenschaftlichen Branchen geeignet Forschungseinheiten, Qualitätsprüfinstitute und akademische Bereiche.

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Kontaktdaten
Hai Da Labtester

Ansprechpartner: Mary

Faxen: 86-0769-89280809

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